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梅特勒托利多 V11 Label Inspection System
V11 Label Inspection System适应性强、可集成且成本效益高.这种灵活的标签检测解决方案能可靠地从侧面或顶部检查定向产品的标签数据和质量缺陷。它可以利用智能摄像头、照明和软件
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梅特勒托利多 V31 Oriented Line Vision Inspection
规格 - V31 Oriented Line Vision Inspection摄像头技术包装方向定向产品传感器功能检测清晰、不透明、散装的产品软件平台服务远程支持标签数据检查字母数字 二维条形码
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梅特勒托利多 V15 Label Inspection 360° System
V15 Label Inspection 360° System紧凑、高效、可靠.这种节省空间的解决方案可检测圆形产品上的标签数据和质量缺陷。六个图像传感器采用紧凑型设计,可轻松安装在现有输送机
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梅特勒托利多 V13 Flatpack Label Inspection System
V13 Flatpack Label Inspection System坚固、灵活、节省空间.该解决方案自下而上进行可靠的标签检测,以检测平板包装底面的标签。独立解决方案提供可配置的物料处理选项
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梅特勒托利多 V33 Flat Pack Line Vision Inspection
规格 - V33 Flat Pack Line Vision Inspection摄像头技术包装方向产品传感器功能检测清晰、不透明、散装的产品软件平台服务远程支持标签数据检查字母数字 二维条形码
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梅特勒托利多 X32 X-ray Inspection System
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梅特勒托利多 X35 Bulk Flow X-ray Inspection System
X35 Bulk Flow X-ray Inspection System创新的散料检测解决方案.X35系列散料X射线系统专为松散流动的散装食品而设计,在产品进一步增值之前提供污染物检测,每小时可
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梅特勒托利多 X35 Series DXD X-ray Inspection System
X35 Series DXD X-ray Inspection System检测不易发现的污染物.优质的DXD X射线检测器在检测各种包装食品中具有出色的检测性能。作为双能量解决方案,DXD安装
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Amptek FAST SDD C2 window/快速硅漂移探测器SEM应用
Amptek FAST SDD™ C2 窗口针对SEM应用开发Amptek推出全新SDD探测器,针对电子显微镜能谱仪客户应用(EDS SEM)利用全新技术“C”系列X射线窗口(Si3N4),能够对低能
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赛默飞EA IsoLink™ IRMS 系统
Thermo Scientific™EA IsoLink™ IRMS 系统货号: BRE723644Thermo Scientific™ EA IsoLink™ IRMS 系统为 μg 和 mg
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